2006年9月17-21日，中国科学院BES III工程指挥部邀请有关专家在图书馆VIP召开了“BES－III飞行时间读出电子学系统样机”项目的评审会。该样机主要包括TOF前端读出电子学插件（TOF_FEE）、TOF后插传输模块（FEE_Rear）、和快控制插件等VME 9U机箱插卡，时间分辨指标为25ps，是目前国际高能物理实验的最高水平。该系统由我系“核探测技术与核电子学”联合实验室的安琪教授、刘树彬副教授负责研制。
17-19日，评审会的测试组成员实地抽测了该实验室提供的样机，对研制要求的时间测量性能、电荷测量性能、线性、串扰性能、长时间稳定性、光纤传输误码率等性能指标，以及FPGA逻辑在线更新及重加载等功能性指标逐一进行了详细的测试，并将样机按实际情况与光电倍增管、前置放大器连接进行了宇宙线测试，测试结果获得测试组专家组的认同。
20-21日，评审组听取了安琪教授的项目研制报告、高能所王佩良研究员和朱科军副研究员的测试报告，以及高能所衡月昆副研究员的用户报告。鉴定会全体专家经过充分的认证和讨论，认为该项目采用了先进的工艺措施，主要性能指标，特别是时间通道的性能指标，已经达到或优于BES-III工程所要求的设计指标，系统逻辑功能正常，数据准确可靠。
评审组认为，TOF电子学系统技术指标高、设计难度大。在研制过程中采用了许多新技术、新方法，如全差分和实时修正技术，实现了高集成度的超高精度时间测量等创新性成果，达到了国际先进水平。
基于BES III长期运行的需要，评审组要求在保证现有性能的基础上，设计增加电荷校准电路，以有利于提高系统的积分非线性和长期稳定性，并在今年年底对新增部分进行鉴定。这次阶段验收使整个项目朝着工程化阶段大大迈进了一步。